激光掃描儀

通過高精度光學(xué)放大測(cè)頭，將被測(cè)微小尺寸予以放大，利用先進(jìn)的圖像信息處理技術(shù)，可編程控制光學(xué)照明技術(shù)實(shí)現(xiàn)對(duì)微小或易變形的零部件的非接觸測(cè)量，輕松實(shí)現(xiàn)2D輪廓測(cè)量，彌補(bǔ)了單純?nèi)�維激光掃描不能確定產(chǎn)品準(zhǔn)確邊界條件的不足主要特征：快速準(zhǔn)確地采集完整的三維幾何點(diǎn)云數(shù)據(jù)，包含了所有的外形尺寸獨(dú)特的濾光設(shè)計(jì)，可使CCD基本不受環(huán)境光影響；兩組測(cè)頭從兩側(cè)不同方位測(cè)量，幾乎沒有測(cè)量死角整個(gè)系統(tǒng)的掃。 詳細(xì)介紹>>