150㎜平面干涉儀上海乾曜光學(xué)科技

G150M型平面干涉儀:專為計量級測試的需求設(shè)計，適用于計量機構(gòu)檢定和校準光學(xué)平晶。其集高性能、長壽命氦氖激光器，1-6.7倍圖像放大功能，高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng)，精密平面標(biāo)準鏡等一系列高精技術(shù)，通過優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機械系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)高精密平面光學(xué)元件的測量。選配靜態(tài)干涉條紋分析軟件，實現(xiàn)數(shù)字化測量。G150S為G150M:的簡化版本，適合光學(xué)車間的現(xiàn)場檢驗。主要用途：平面類光學(xué)元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學(xué)平行度和材料均勻性的測試；準直系統(tǒng)波前質(zhì)量的測試。儀器規(guī)格參數(shù)表產(chǎn)品型號G150MG150S有效通光口徑152.4mm（6英寸）測量方式菲索干涉原理光源氦氖激光（632.8nm）半導(dǎo)體激光器（635nm）連續(xù)變焦倍數(shù)1-6.7倍固定倍率光路切換對準（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換顯示方式計算機或獨立監(jiān)視器實時顯示監(jiān)視器實時顯示平面透過標(biāo)準鏡PV：優(yōu)于λ/20，可定制更高精度標(biāo)準鏡平面反射標(biāo)準鏡標(biāo)配選配衰減過濾片標(biāo)配選配。 詳細介紹>>