• 供應(yīng)150㎜臥式激光球面干涉儀價(jià)格
    • 產(chǎn)品價(jià)格:¥ 100000 元/臺(tái)
    • 供 貨 量:10臺(tái)
    • 所 在 地:中國(guó) 上海 上海
    • 聯(lián) 系 人:楊毓 先生   添加為商業(yè)伙伴
    • 有 效 期:2018年06月29日-2018年12月26日
    詳細(xì)信息

    G100干涉儀:為乾曜光學(xué)將世界先進(jìn)干涉測(cè)量技術(shù)與大尺寸、大曲率鏡片測(cè)量的市場(chǎng)需求相結(jié)合,優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)和機(jī)械系統(tǒng)結(jié)構(gòu),將高精度的成像系統(tǒng)和圖像采集系統(tǒng),穩(wěn)頻激光技術(shù)和1-6.7倍圖像放大功能等一系列高精技術(shù)融合,滿足科研級(jí)高精密光學(xué)元件光學(xué)系統(tǒng)的測(cè)量的高端要求。

    G150干涉儀:為首款國(guó)產(chǎn)有效口徑6英寸的激光干涉儀,配置6英寸球面標(biāo)準(zhǔn)鏡,能夠有效地解決大口徑凸面鏡的面型和曲率測(cè)試。
    條紋分析軟件有移相干涉條紋分析軟件和靜態(tài)干涉條紋分析軟件供選擇,實(shí)現(xiàn)數(shù)字化測(cè)量。
    球面標(biāo)準(zhǔn)鏡頭系列有F0.65,F(xiàn)0.75,F(xiàn)1.0, F1.5,F(xiàn)2.2, F3.3,F(xiàn)7.1和F10.7,F(xiàn)15,F(xiàn)25,F(xiàn)45,和長(zhǎng)焦距發(fā)散鏡頭F10D,F(xiàn)15D,F(xiàn)25D,F(xiàn)45D等,可定制其他F數(shù)的鏡頭。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭分別與Zygo 4英寸和6英寸干涉儀通用。
    主要用途:平面、球面類(lèi)光學(xué)元件(包括各類(lèi)玻璃、塑料透鏡、球面反射鏡、光圈量規(guī)、球面軸承等)表面光圈、局部形變的測(cè)量,球面曲率半徑的測(cè)量;光學(xué)系統(tǒng)的在線監(jiān)視裝調(diào)和系統(tǒng)精度測(cè)量。
    儀器規(guī)格參數(shù)表:


    產(chǎn)品型號(hào)

    G100

    G150

    有效通光口徑

    101.6 mm(4英寸)

    152.4mm(6英寸)

    測(cè)量方式

    菲索干涉原理

    光源

    穩(wěn)頻氦氖激光(632.8nm),相干長(zhǎng)度大于100米

    連續(xù)變焦倍數(shù)

    1-6.7倍

    光路切換

    對(duì)準(zhǔn)(十字叉絲)與測(cè)試(干涉場(chǎng))模式電控切換

    顯示方式

    計(jì)算機(jī)或獨(dú)立監(jiān)視器實(shí)時(shí)顯示

    標(biāo)準(zhǔn)鏡頭

    平面鏡,F(xiàn)0.65,F(xiàn)0.75,F(xiàn)1.0,F(xiàn)1.5,F(xiàn)2.2,F(xiàn)3.3,F(xiàn)7.1和F10.7等

    球面參照精度

    PV:優(yōu)于λ/15

    PV:優(yōu)于λ/10

    平面參考鏡精度

    PV:優(yōu)于λ/20

    PV:優(yōu)于λ/20

    儀器尺寸(長(zhǎng)X寬X高)

    630X400X410mm

    750X420X460mm

    儀器重量

    40KG

    50KG

    電源

    AC100-240V 50/60Hz

    儀器特點(diǎn)


    精度高:標(biāo)準(zhǔn)鏡頭采用優(yōu)良的光學(xué)、機(jī)械設(shè)計(jì),并經(jīng)過(guò)高精度裝配,性能優(yōu)異,精度可靠;
    數(shù)字化:條紋分析軟件有移向干涉條紋分析軟件和靜態(tài)干涉條紋分析軟件供選擇,滿足客戶不同成本要求
    功能強(qiáng)大:標(biāo)配曲率半徑測(cè)量系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)面型和曲率同步測(cè)量; 1-6.7倍圖像放大功能
    紋真實(shí):優(yōu)良的光學(xué)設(shè)計(jì),精密的系統(tǒng)裝調(diào),保證得到清晰、準(zhǔn)確、真實(shí)的干涉條紋
    測(cè)量范圍廣:適用大尺寸、大曲率的光學(xué)元件的批量檢驗(yàn);臥式設(shè)計(jì),適用于測(cè)量平面光學(xué)元件和光學(xué)系統(tǒng)的裝調(diào)和測(cè)試

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    150㎜臥式激光球面干涉儀價(jià)格
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